VA-70NIR 锥光成像分析仪

雷云光电推出首款VA-70NIR锥光成像分析仪，锥光镜头可在±70° 视角条件下同时获取多种视角测量数据。灵活搭配PROICM专业软件，可测量500-1100nm波长范围的发射器的辐射强度的角度分布，完整的提供了整个视角范围内准确、快速的测量结果，是用在人脸识别传感器、3D传感器、TOF结构光激光器、VCSEL、近红外发射器等等产品产线测量的理想选择。

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特性
应用
规格

VA-70NIR 锥光成像分析仪特性

● VA-70NIR锥光成像仪配置了2500万像素分辨率探测器，搭载±70°大视角锥光镜头，可测量500-1100nm波长范围的发射器的辐射强度的角度分布，完整的提供了整个视角范围内准确、快速的测量结果。

● ProICM测试软件提供直观的系统设置和数据分析，包括2D图形、等距图、雷达图等图形分析功能。

● 通过内置图像缓冲内存以及千兆网接口实现高速测量和数据传输。

● 通过选配的滤光片轮可轻松实现多波长的检测。

VA-70NIR 锥光成像分析仪应用

● 人脸识别传感器

● 3D传感器

● TOF结构光激光器

● VCSEL

● 近红外发射器

VA-70NIR 锥光成像分析仪规格

型号	VA-70NIR
探测器	23*23mm
总像素	2621万
像素分辨率	5120*5120
测量功能	辐射强度、辐射通量、角度分布
曝光时间	80us~10sec
波长范围	500-1100nm之间各种单波长
滤光片	单个波长滤光片或多个波长滤光片
角度分辨率	0.039°
测量直径	4mm
测量距离	3mm
视角范围	±70°
尺寸	180180453mm(含镜头长度)
接口	LAN、Trigger
工作温度	10~40°C
供电电压	AC电源适配器