CS系列分光辐射度计

CS系列分光辐射度计其核心一是应用HAMAMATSU的TE-cooled背照式制冷CCD探测器，二是对称式低杂散光光路设计。相对于一般的高精度快速光谱仪，具有高灵敏度、低杂散光、宽动态范围、高重复性稳定性等优点。是用于公司科研、国家地方光电实验室以及专业检测机构等的光学特性测量的理想选择。

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特性
规格

CS系列分光辐射度计特性

极低的杂散光

结合最新光路设计技术实现分光光路与传感器的完美匹配，同时结合独创的FCT技术，并将NIST杂散光校正技术辩证结合，使杂散光水平比原有水平降低超过一个数量级。

高灵敏度

采用HAMAMATSU科研级高灵敏度阵列探测器，背照式CCD传感器，具有内部TE致冷、BINNING等优良特性。

多种型号选择满足你不同的应用需求：

工业级CS-4000，多种波长范围选择，价格经济，通过一系列可以互换的光测量附件即可轻松实现定制化。

科研级CS-6500，采用二维阵列探测器，多种波长范围选择。像素列的叠加使得信噪比大大提升（37000：1），外围电路将信号数字化添加使得探测器的信号处理速度与其他线性CCD相比更为快速。TE制冷型探测器（最低至-15 °C）具有低噪音、低暗信号的特点，低亮度级别测试、长积分时间从8毫秒到15分钟（类似于照相机的快门速度）得以实现。

实验级CS-4500，采用二维阵列探测器，多种波长范围选择，具有强大的电子系统:带有自动清零功能的16位A/D转换器(增强的电子暗电流校正);采用EEPROM存储校正系数,方便操作;电子快门可使积分时间最短达到10毫秒--有效地避免探测器饱和，而且CS-4500的信噪比可以达到4700:1，光学分辨率(FWHM)为0.03-8.4nm(依赖于选用的光栅和入射狭缝)。

CS系列分光辐射度计规格

型号	CS-4000	CS-4500	CS-6500
探测器范围	300-1100纳米	300-1100纳米	300-1100纳米
传感器	CMOS传感器	热电制冷面阵CCD（薄型背照式）	热电制冷面阵CCD（薄型背照式）
像素	3648像素	2048*64像素	1024×64像素
波长范围	350-850纳米	350-1050纳米	360-930纳米
信噪比	300：1全光谱	4700：1全光谱	37000:1全光谱
A/D分辨率	16位	16位	16位
积分时间	3.8毫秒-10秒	10毫秒-65秒	8毫秒-65分钟
制冷	—-	0°	-10°
杂散光	<0.05%	<0.05%	<0.05%
校正线性度	>99.8%	>99.8%	>99.8%
色温范围	1500-35000K	1500-35000k	1500-35000K
亮度范围*	0.1~100000cd/m^2	0.005~100000cd/m^2	0.001~100000cd/m^2
亮度精度	+/-2%（@标准A光源）	+/-2%（@标准A光源）	+/-2%（@标准A光源）
亮度重复性	+/-0.1%（@标准A光源）	+/-0.1%（@标准A光源）	+/-0.1%（@标准A光源）
色度精度	±0.0003（标准A光源）	±0.0003(标准A光源)	±0.0003(标准A光源)
色度重复性	+/-0.0002（@标准A光源）	+/-0.0002（@标准A光源）	+/-0.0002（@标准A光源）