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分光辐射度计用于分析光束的光谱组成，结合各种光学结构和绝对校准可组成一个测量仪器，即光谱仪。
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型号 |
CS-4000 |
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探测器范围 |
300-1100纳米 |
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传感器 |
CMOS传感器 |
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波长范围 |
330-1050纳米 |
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积分时间 |
1.5毫秒-24秒 |
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制冷 |
—- |
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杂散光 |
<0.05% |
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校正线性度 |
>99.8% |
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色温范围 |
1500-35000K |
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光度范围* |
0.1~100000 |
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光度精度 |
±2%（@标准A光源） |
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光度重复性 |
±0.1%（@标准A光源） |
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色度精度 |
±0.0003（@标准A光源） |
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色度重复性 |
±0.0002（@标准A光源） |
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型号 |
CS-4500 |
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探测器范围 |
180-1100纳米 |
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传感器 |
热电制冷面阵CCD（薄型背照式） |
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波长范围 |
300-1100纳米 |
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积分时间 |
1毫秒-65秒 |
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制冷 |
0° |
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杂散光 |
<0.05% |
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校正线性度 |
>99.8% |
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色温范围 |
1500-35000k |
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光度范围* |
0.005~100000 |
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光度精度 |
±2%（@标准A光源） |
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光度重复性 |
±0.1%（@标准A光源） |
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色度精度 |
±0.0003(@标准A光源) |
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色度重复性 |
±0.0002（@标准A光源） |
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型号 |
CS-6500 |
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探测器范围 |
180-1100纳米 |
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传感器 |
热电制冷面阵CCD（薄型背照式） |
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波长范围 |
300-1100纳米 |
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积分时间 |
5毫秒-65秒 |
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制冷 |
-10° |
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杂散光 |
<0.05% |
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校正线性度 |
>99.8% |
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色温范围 |
1500-35000K |
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光度范围* |
0.001~100000 |
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光度精度 |
±2%（@标准A光源） |
|
光度重复性 |
±0.1%（@标准A光源） |
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色度精度 |
±0.0003(@标准A光源) |
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色度重复性 |
±0.0002（@标准A光源） |
+86 13302611249 
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