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VA-70NIR 锥光成像分析仪

VA-70NIR 锥光成像分析仪

雷云光电推出首款VA-70NIR锥光成像分析仪,锥光镜头可在±70° 视角条件下同时获取多种视角测量数据。灵活搭配PROICM专业软件,可测量500-1100nm波长范围的发射器的辐射强度的角度分布,完整的提供了整个视角范围内准确、快速的测量结果 。可有效应用在人脸识别传感器、3D传感器、TOF结构光激光器、VCSEL、近红外发射器等等。

VA-70NIR 锥光成像分析仪 特性

● VA-70NIR锥光成像仪配置了2500万像素分辨率探测器,搭载±70°大视角锥光镜头,可测量500-1100nm波长范围的发射器的辐射强度的角度分布,完整的提供了整个视角范围内准确、快速的测量结果 。

● ProICM测试软件提供直观的系统设置和数据分析,包括2D图形、等距图、雷达图等图形分析功能。

● 通过内置图像缓冲内存以及千兆网接口实现高速测量和数据传输。

● 通过选配的滤光片轮可轻松实现多波长的检测。

VA-70NIR 锥光成像分析仪 应用

● 人脸识别传感器

● 3D传感器

● TOF结构光激光器

● VCSEL

● 近红外发射器

VA-70NIR 锥光成像分析仪 规格

型号

VA-70NIR

探测器

23*23mm

总像素

2621万

像素分辨率

5120*5120

测量功能

辐射强度、辐射通量、角度分布

曝光时间

80us~10sec

波长范围

500-1100nm之间各种单波长

滤光片

单个波长滤光片或多个波长滤光片

角度分辨率

0.039°

测量直径

4mm

测量距离

3mm

视角范围

±70°

尺寸

180*180*453mm(含镜头长度)

接口

LAN、Trigger

工作温度

10~40°C

供电电压

AC电源适配器

*   规格参数与外观有可能在没有预先通知的情况下予以变更,恕不另行通知。


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