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CS系列分光辐射度计

CS系列分光辐射度计

CS系列分光辐射度计其核心一是应用HAMAMATSU的TE-cooled背照式制冷CCD探测器,二是对称式低杂散光光路设计。相对于一般的高精度快速光谱仪,具有高灵敏度、低杂散光、宽动态范围、高重复性稳定性等优点。适用于公司科研、国家地方光电实验室以及专业检测机构等。



CS系列分光辐射度计 特性

  • 极低的杂散光
结合最新光路设计技术实现分光光路与传感器的完美匹配,同时结合独创的FCT技术,并将NIST杂散光校正技术辩证结合,使杂散光水平比原有水平降低超过一个数量级。
  • 高灵敏度

采用HAMAMATSU科研级高灵敏度阵列探测器,背照式CCD传感器,具有内部TE致冷、BINNING等优良特性。

多种型号选择满足你不同的应用需求:


工业级CS-4000,多种波长范围选择,价格经济,通过一系列可以互换的光测量附件即可轻松实现定制化。

科研级CS-6500,采用二维阵列探测器,多种波长范围选择。像素列的叠加使得信噪比大大提升(37000:1),外围电路将信号数字化添加使得探测器的信号处理速度与其他线性CCD相比更为快速。TE制冷型探测器(最低至-15 °C)具有低噪音、低暗信号的特点,低亮度级别测试、长积分时间从8毫秒到15分钟(类似于照相机的快门速度)得以实现。

实验级CS-4500,采用二维阵列探测器,多种波长范围选择,具有强大的电子系统:带有自动清零功能的16位A/D转换器(增强的电子暗电流校正);采用EEPROM存储校正系数,方便操作;电子快门可使积分时间最短达到10毫秒--有效地避免探测器饱和,而且CS-4500的信噪比可以达到4700:1,光学分辨率(FWHM)为0.03-8.4nm(依赖于选用的光栅和入射狭缝)。

CS系列分光辐射度计 规格

型号

CS-4000

CS-4500

CS-6500

探测器范围

300-1100纳米

300-1100纳米

300-1100纳米

传感器

CMOS传感器

热电制冷面阵CCD(薄型背照式)

热电制冷面阵CCD(薄型背照式)

像素

3648像素

2048*64像素

1024×64像素

波长范围

350-850纳米

350-1050纳米

360-930纳米

信噪比

300:1全光谱

4700:1全光谱

37000:1全光谱

A/D分辨率

16位

16位

16位

积分时间

3.8毫秒-10秒

10毫秒-65秒

8毫秒-65分钟

制冷

—-

-10°

杂散光

<0.05%

<0.05%

<0.05%

校正线性度

>99.8%

>99.8%

>99.8%

色温范围

1500-35000K

1500-35000k

1500-35000K

亮度范围*

0.1~100000cd/m^2

0.005~100000cd/m^2

0.001~100000cd/m^2

亮度精度

+/-2%(@标准A光源)

+/-2%(@标准A光源)

+/-2%(@标准A光源)

亮度重复性

+/-0.1%(@标准A光源)

+/-0.1%(@标准A光源)

+/-0.1%(@标准A光源)

色度精度

±0.0003(标准A光源)

±0.0003(标准A光源)

±0.0003(标准A光源)

色度重复性

+/-0.0002(@标准A光源)

+/-0.0002(@标准A光源)

+/-0.0002(@标准A光源)

*¹亮度和色度的测量基于雷云光电条件下(使用亮度1000cd/m^2标准光源,LED背光源,6500K色温LCD显示器)。
*亮度范围视使用探头或光斑大小而定。
*规格参数与外观有可能在没有预先通知的情况下予以变更,恕不另行通知。  
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