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RayClouds Photoelectric Technology Co.,Ltd.

背光模组光学测量系统

DM系列背光模组光学特性测量系统,搭载亮度计主要进行背光模组亮度和色彩均匀性测量。我们根据产品大小及放置方式提供样品直立和水平两种结构共九个型号,由最小测量12寸以内的DM-205系统到最大测量多达100寸以内的DM-340系统。

其目的是为LCD、PDP、OLED和LED显示屏,以及LED、CCFL背光的研发,提供准确的光学性能测量数据;主要用于实验室、工程研发以及QA/QC等相关部门。

  • 配件
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    视频采集卡
  • 软件
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    BackLightTest V2.15
两轴DM-2xx系列和三轴DM-3xx系列光学测量系统,满足您10寸-100寸宽尺寸产品的光学性能测量。支持的光学测量项目包括亮度均匀性,色度、色温、色度均匀性,对比度、色域覆盖率,灰阶、Gamma,残影(Cross Talk),响应时间,热机时间、亮度稳定性,OLED的I-V-L。
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